CMOS光譜儀,事實上就是產品中重要組成部件使用CMOS,CMOS光譜儀和一般的光譜儀不同,它既包含了CCD光譜議的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機設計臺理,操作簡單易學,采用真空光室設計及全數字激發光源。下面和大家說說哪些情況可以導致CMOS光譜儀測量不準確?
影響CMOS光譜儀測量不準確的因素:一、光譜儀標準化分析操作對結果的影響,光譜儀標準化分析操作不及時將會直接影響分析結果的準確性。所以對于儀器的來說,需要定時做儀器的標準化操作。二、聚光透鏡的影響,聚光透鏡是樣品被激發而發出的光進入分光儀的唯 一通道,必須保持鏡面清潔干凈。但如果長期使用透鏡則會受到污染,透鏡外表面將會附著一層茶褐色物質,時間越長,沉積越厚。另外,激發產生的金屬粉末也會粘附在透鏡的外表面上,使分析靈敏度降低,分析誤差增大。在對直讀光譜儀使用過程中,發現設備短期穩定性較好,但長期穩定性相對差一些,特別是對非金屬元素的影響較大。通過觀察,鐵基值下降30%時,說明透鏡已受污染,需及時對透鏡進行處理。

影響CMOS光譜儀測量不準確的因素:三、樣品處理的影響,采用火花發射進行光譜分析時,樣品表面處理好壞將直接影響分析結果的準確度。實驗發現:如果樣品過熱,則氮的分析結果的波動大,精度較差。所以相比研磨片制樣,采用車床進行加工制樣,效果更佳,制樣時間短、樣品表面平整、紋理清晰、不易污染,試樣不會過熱,試樣的分析精度也會比較高。四、氣源純度的影響,光譜分析氣體所用氬氣純度有較高的要求,因此使用高純氬(99.999%),且管路的接頭無任何泄漏點,從而保證分析結果穩定性。另外,可使用氬氣凈化機,保證氬氣的純度。

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