顯微鏡能看到結晶體結構嗎?這要看什么樣的顯微鏡，普通的光學顯微鏡在此觀察上效果較差，因此普遍使用金相顯微鏡觀察這些結晶體結構，金相顯微鏡是一種研究晶體缺陷十分有用的儀器，它在金屬材料和半導體材料領域有著廣泛的用途。例如，可以用它觀察半導體晶體中的位錯、體內層錯和氧化層錯、晶格點陣無序等結構缺陷。透射電鏡最突出的優點是具有高的分辨本領，可以觀察晶體微米數量級尺寸以下的結構缺陷，甚至還可以分辨幾埃左右面間距的原子平面。此外，還可以用它來定性地鑒定晶體中的微沉淀形態和成分。

而在使用這類測量顯微鏡結構功能時，需要注意在觀察時是否有色差，會影響數碼設備對結晶體結構的抓拍識別，因為色差現象的產生是由于光軸上的物點發出的多色光經單透鏡成像時，各色光對應的不重合的像點而造成的，在產生色差現象后，在觀察成像效果上，觀察區域周圍會產生模糊化，從而影響大家的觀察效果，因此45°金相顯微鏡就采用除色差技術，從根本上解決此類問題，大家在使用時也更放心。

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